•對長度不超過150 m的設備進行單次測量、全參數分析

•在不到3秒的時間內對無源器件進行quan面表征

•全偏振響應

•單次掃描，同時測量完整的參數范圍

--插入損耗（IL）

--偏振相關損耗

--偏振模色散（PMD）和二階PMD

--色散（CD）

--組延遲（GD）

--光時域響應

--Jones矩陣元素

--光學相位響應

•高分辨率C和L波段（OVA 5000）或O波段（OVA 5013）能力

•實時測量

•用戶友好界面

•分析平面光電路和硅光子器件

•表征光纖組件

•測量頻譜響應和時延響應

•通過完整的傳遞函數改進設備模擬和模型

OVA 5100–OVA 5000的新外殼和名稱

Luna OVA 5100本質上是一款OVA 5000，封裝尺寸較小，并進行了一些內部更新，以提高其可制造性和長期可支持性。

在功能上，OVA 5100/5113系統是OVA 5000/5013的替代品，具有同等的功能、規格、功能和軟件。

OVA 5000/5013的所有選項均適用于OVA 5100/5113，零件號不變。重要可能影響系統與客戶應用程序集成的變化將是系統的物理尺寸和重量的減少。

維護OVA 5000和OVA 5013

OVA 5000和OVA 5013型號已進入維護模式，這意味著Luna將繼續全力支持和服務這些系統，并遵守產品保修。

通過1次掃描，OVA 5000可以同時測量光子器件和子系統的完整傳遞函數。此屏幕顯示IL和組延遲與波長的關系。

1.快速模式：無平均校準掃描，4次平均測量掃描，30 pm分辨率帶寬，8 m設備長度（使用NIST認證的人工制品驗證精度，IL除外）。高動態范圍選項已啟用。

2.平均模式：4次平均校準掃描，64次平均測量掃描，30 pm分辨率帶寬，8 m設備長度（使用NIST認證的人工制品驗證精度，IL除外）。高動態范圍選項已啟用。

3.由NIST內部可追蹤的HCN氣室保持精度。

IL、GD和PMD在“平均模式"下的4.80、60和50 dB動態范圍已安裝并啟用“高動態范圍"選項。

5.指出可以捕獲的總設備脈沖響應持續時間。

6.根據每次掃描的組合激光掃描和分析時間計算的速率。

7.在快速模式（Fast Mode）：40 nm范圍和平均模式（Average Mode）：2.5 nm范圍內進行全規格測量（見注釋4）。不包括校準時間。

單次掃描中的完整特征

OVA 5000quan面分析集成光子器件和子系統的光學特性，提供quan面的表征

一次掃描和一次連接。OVA 5000使用干涉測量法直接測量線性傳遞函數（Jones矩陣），并同時測量其在每個波長下的四個復數元素。根據該數據，

所有標準線性參數測量，包括IL、RL、GD、CD、PMD和PDL，都可以以z高的動態范圍和可用的精度進行提取。

其結果是實現了極其快速、高分辨率和精確的器件表征，是硅光子學和其他集成光子學器件的理想選擇。

高分辨率“零死區"反射計

OVA 5000還可以作為具有光學頻域反射計（OFDR）選項的高分辨率反射計進行操作。具有OFDR選項的OVA 5000可提供20μm采樣分辨率、“零死區"和高靈敏度（>95 dB）的反射計測量。使用此選項，您可以輕松

“向內看"微型光子器件，并在波導內通常發生的規模上區分反射事件和雜質。

全偏振分析

通過可選的偏振分析軟件插件，OVA 5000可以測量、計算和顯示光學組件對模擬輸入偏振態的響應，從而消除了偏振對準的繁瑣和困難任務。該軟件顯示插入損耗、群延遲和對用戶定義的輸入極化狀態的脈沖響應。易于使用的滑塊允許用戶將模擬輸入偏振調整到任何所需狀態。anlaysis軟件還繪制了偏振主態（PSP）的Min. 和Max. 插入損耗、群延遲和色散，以及偏振平均量（IL、GD、CD等），

PMD、PDL、Jones矩陣元素和時域信息。

使用單一儀器進行quan面表征

OVA 5000是業界重要一款通過單次連接和單次高速測量掃描測量光學組件完整光譜和時間延遲響應的儀器。OVA 5000簡化了測試設置，縮短了測試時間

通過將多個光學儀器和組件的功能集成到單個儀器中。

用單個OVA 5000替換所有這些儀器。

型號說明